设备名称：真空紫外荧光粉测试系统

规格、型号：Sensing

产地：中国

购置日期：2003.12

价格：22万RMB

主要技术指标（性能指标）：

采用专利技术，快速、简便地测试PDP荧光粉的亮度、色度、余辉等全部光学参数，可分别测量147nm和172nm单一谱线激发下的发光性能分析PDP的放电与荧光粉匹配参数激发光源：模拟PDP像元发光特性的真空紫外放电管光谱范围：350nm～800nm

余辉时间：0.1ms～1s

余辉分辨率：0.1ms（可扩展至1μs）

主要用于领域（适用范围、测试范围）：测量PDP荧光粉在147.0nm、172nm真空紫外辐照激发下的发光光谱功率分布、谱线带宽、峰值波长、发光亮度、色品坐标、颜色纯度和主波长等参数；测量PDP荧光粉的发光余辉波形曲线、有效余辉时间，以及荧光粉在VUV辐照下的光衰特性。

存放地点： 纳米楼307

管理人员：袁曦明、王永钱

联系电话：15337113868